RMS重復性0.005nm！在科研與制造中，數據不會撒謊。白光干涉儀的核心競爭力在于其基于白光干涉原理的精度表現 。

核心技術參數亮點

1.重復性：主流型號（如SuperView W1系列、WT3000）在測量Sa為0.2nm的硅晶片時，連續10次測量的RMS重復性可達0.005nm 。

2.超高分辨率：最小可測粗糙度穩定在0.1nm及以下，滿足半導體芯片、光學鏡片等超精密產品的嚴苛需求 。

3.臺階測量高精度：臺階高度測量準確度可達0.3%~0.5%，與粗糙度測量基于同一干涉原理，精度表現高度一致 。

4.國際標準背書：嚴格遵循ISO 25178（三維粗糙度）、ISO 10610-1:2009（臺階測量）等國際標準，確保您的數據具備行業認可度 。

為您的研發與質檢提供最堅實的數據支撐，白光干涉儀用參數定義精密。立即咨詢客服獲取RMS重復性0.005nm|工業級白光干涉儀價格~

中圖儀器推出的SuperView W1白光干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級工件的微觀幾何輪廓、粗糙度、平整度、曲率等，可廣泛應用于3C電子玻璃屏及其精密配件、汽車零部件、半導體制造及封裝工藝檢測、光學加工、微納材料及制造、MEMS器件等超精密加工行業及航天、高校科研院所等領域中。在少數需要檢測超精密器件表面全貌的場景中，SuperView W1雙物鏡白光干涉儀的自動拼接功能，能快速實現大區域、高精度的測量。

深圳市中圖儀器科技有限公司致力于精密計量、檢測儀器設備的研發、生產和銷售。現擁有2千平方米的現代化科研辦公場地及3千平方米的精密加工、裝配基地，配備了科研設施和精密加工設備，按照ISO9001標準進行生產，為客戶提供高質量產品。RMS重復性0.005nm|工業級白光干涉儀價格請咨詢客服。

注：產品參數與服務可能根據技術升級實時更新，具體以新標準為準。